МИКРОСКОПИЯ
Оптические микроскопы
Схема работы микроскопа
Дифракция и интерференция
Схема работы электронного микроскопа
Виды электронных микроскопов
Общий вид электронного микроскопа
Принципиальная схема РЭМ
Туннельный эффект
Программное обеспечение СТМ
Режимы работы СТМ
СТМ снимки
Принцип действия атомного силового микроскопа (АСМ)
Принцип работы АСМ
Схема работы АСМ
Рабочие части АСМ
Комбинированный фрикционный и рельефный снимок атомов графита
Зонд FIRAT
СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НОВОГО МИКРОСКОПА
2.65M
Категория: ФизикаФизика

Основы наноинженерии. Инструменты и методы наноинженерии

1.

ОСНОВЫ
НАНОИНЖЕНЕРИИ
Инструменты и методы
наноинженерии

2. МИКРОСКОПИЯ

Оптическая
Электронная
Сканирующая
зондовая

3. Оптические микроскопы

Микроскоп XVII в., гравюра
Микроскоп
Джона Каффа, 1750 г.
Экспонат микроскопа, UP

4. Схема работы микроскопа

1 – Осветительная лампа
2 – Линза, используемая для
равномерного освещения
объекта
3 – Полевая диафрагма для
ограничения светового пучка
4 – Зеркало
5 – Апертурная диафрагма для
ограничения светового пучка
6 – Конденсор
7 – Рассматриваемый объект
(препарат)
7’ – Увеличенное
действительное
изображение объекта
7” – Увеличенное мнимое
изображение объекта
8 – Объектив
9 – Окуляр
10 – Предметный столик

5. Дифракция и интерференция

6. Схема работы электронного микроскопа

7. Виды электронных микроскопов

Просвечивающий электронный
микроскоп (ПЭМ)
Растровый электронный микроскоп
(РЭМ)
Растровый просвечивающий
электронный микроскоп (РТЭМ)
Зеркальный [отражательный]
электронный микроскоп (ЗЭМ)

8. Общий вид электронного микроскопа

9. Принципиальная схема РЭМ

10. Туннельный эффект

Принцип действия сканирующего
туннельного микроскопа (СТМ)

11. Программное обеспечение СТМ

12. Режимы работы СТМ

Режим постоянной
высоты
Режим постоянного
тока

13. СТМ снимки

Поверхность
монокристаллического
кремния
Снимок примесей
замещения Cr
(небольшие
выпуклости) на
поверхности Fe
Золото на слюде
0,19х0,19 мкм
Атомарная решетка
высокоориентированного
графита

14. Принцип действия атомного силового микроскопа (АСМ)

Зависимость силы межатомного
взаимодействия от расстояния между острием
и образцом

15. Принцип работы АСМ

16. Схема работы АСМ

17. Рабочие части АСМ

Электронный
микроснимок двух Vобразных кантилеверов
длиной 100 мкм
Схематичное
изображение
конструкции АСМ с
кантилевером в виде
цилиндрической
пружины
Три вида игл (каждая
высотой 3 мкм)

18. Комбинированный фрикционный и рельефный снимок атомов графита

Размер участка – 2,5х2,5 нм.
Выпуклости отражают рельеф поверхности, а цвет – силы
трения. Сканирование проводилось справа налево

19. Зонд FIRAT

20. СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НОВОГО МИКРОСКОПА

English     Русский Правила