Испытание зондов для атомно-силового микроскопа NanoEducator, испытание нового метода заточки вольфрамовых зондов

1.

Испытание зондов для атомно-силового микроскопа
NanoEducator, испытание нового метода заточки вольфрамовых
зондов.
Харчевников И.О.
Донской Государственный Технический Университет,
Ростов-на-Дону, Россия
Характеристики Сканирующий зондовый микроскоп
NanoEducator
Одним из наиболее совершенных методов получения данных
о морфологии и локальных свойствах поверхности твердых
тел с высоким пространственным разрешением является
сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ).
Наиболее распространенные методы СЗМ включают
сканирующую туннельную микроскопию (СТМ) и атомносиловую микроскопию (АСМ). Принцип работы АСМ
основан на действии атомных сил между атомами вещества.
Такие силы действуют между любыми телами, находящимися
на малых расстояниях друг от друга. Например, поверхность
образца и сканирующий зонд.
Атомно силовой микроскоп и датчик силового
взаимодействия.
Для получения качественных изображений поверхности, а
также для получения атомарного разрешения необходимо
обеспечить высокое разрешение АСМ. Разрешение
определяется поперечным размером области взаимодействия
между зондом и образцом. Поэтому для достижения
максимального разрешения кончик зонда создается с
минимальным радиусом вплоть до моноатомного.
Фото . Скан тестовой решетки , её сечение и снимок на электронном микроскопе. Классический метод в сравнении с новым :
Нагрузка - 0 гр ; Напряжение – 1.5 вольт
Нагрузка – 0.1 гр ; Напряжение – 1.5 Вольт 3й образец
Нагрузка - 0 гр ; Напряжение – 3 вольта
Нагрузка – 0.15 гр ; Напряжение – 3 Вольта 2 й образец
Нагрузка - 0 гр ; Напряжение – 4.5 вольт
Нагрузка – 0.2 гр ; Напряжение – 4.5 Вольт 2 й образец
Фото .Статистика радиуса закругления про всем проведённым опытам

2.

Испытание зондов для атомно-силового микроскопа
NanoEducator, испытание нового метода заточки
вольфрамовых зондов
.