Характеристики интегральных схем (ИС)

1.

обозначение
вид микросхемы
ИЕ
счетчики
ИК
комбинированные счетчики
ИЛ
полусумматоры
ИМ
сумматоры
ИР
регистры
ИА
Арифметическо - логические устройства

2.

Характеристики интегральных схем (ИС).
Система обозначений ИС
Характеристики ИС
Элементы теории надежности

3.

4.

Характеристики и параметры ИС

5.

6. Основные понятия теории качества и надежности ИС.

Качество- совокупность свойств изделия, обусловливающих его
пригодность удовлетворять в соответствии с назначением
некоторые потребности.
Показатели качества ППИ
При производстве
Результаты периодических испытаний.
Результаты приемо-сдаточных испытаний.
Процент сдачи с первого предъявления.
Процент нарушения технологии.
При применении
Количество отказов на
входном контроле
Количество отказов в
процессе изготовления.
Коэффициент ритмичности производства.
Коэффициент конструктивно-технологического запаса по
электрическим параметрам.

7. Теория надежности ИС.

Надежность- свойство изделия сохранять свои характеристики в
заданных пределах в определенных условиях эксплуатации.
FН F0 Н ΔF
Отказ- событие, заключающееся в полной утрате работоспособности изделия или уход параметров за допустимые нормы.
Pот
P
F
10 ΔPP
Вид отказа – форма проявления (короткое замыкание (КЗ), обрыв,
деградация электрических параметров).
Интенсивность отказов- это отношение числа отказавших изделий
к числу непрерывно работающих в начале наблюдения в единицу
времени.
ni
( N ni ) t

8.

(t )
Кр
N t
1000ч
n
t ( N n) t
25 лет
( N n) n
( N n)
f (t )
(t ) P (t )
N ( N n) t
N
n
f (t )
N t
f (t ) dF dt d (1 P) dt dP dt
t
P(t ) exp( (t )dt) e t
0
dP
T tf (t )dt t dt
dt
0
0
P(t ) e
t T
0
0
T P(t )dt e t dt 1

9.

Физическая модель надежности ИС
( t ) П1 f1 ( t ) П2 f 2 ( t ) П3 f 3 ( t ) ...
П1 П2 П3 ... 1
1. Налаженность технологического процесса (ПL )
2. Требуемый уровень качества(ПQ )
3. Число выводов(ПR )
4. Условия эксплуатации(ПE )
5. Температурный режим(Пt )
6. Сложность ИС(С1 , С2)
( t ) П L П Q ( П t C1 П E f 3C2 )П R

10.

Внешние условия работы ИС характеризуются
параметром…
Энергетические затраты на работу микросхемы
можно оценить по параметру …
Сложность микросхемы характеризуется по
параметру …
Свойство изделия сохранять свои характеристики в заданных
пределах в определенных условиях эксплуатации - это…
Отказом называется…
Интенсивность отказов определяется…
Как изменится вероятность исправной работы ИС за 1 час, если
интенсивность отказов уменьшилась в 2 раза.
Как изменится вероятность исправной работы ИС за 1 час, если
интенсивность отказов увеличилась в 2 раза.
Как изменится среднее время работы ИС, если интенсивность
отказов возросла в 2 раза.