Исследование структуры. Оптическая и электронная микроскопия

1. Исследование структуры

Часть 2

2. Оптическая микроскопия Light microscopy

Увеличение максимальное - 1000 раз, рабочее 400 -500

3.

Оптическая микроскопия
Light microscopy
1 .2
d
n sin
λ - длина волны
n - коэффициент преломления

4. Электронная микроскопия Electron Microscopy

1 .2
d
n sin
h
0.037
2meU
U

5. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) Scanning Electron Microscopy (SEM)

Вольфрамовая игла

6. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) Transmission Electron Microscopy (TEM)

7. Дифракция

8. Дифракция электронов Electron Diffraction Analysis

9. Дифракция рентгеновских лучей X-ray diffraction

d
2d sin